CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目

1、TB/T2340-2000标准规定：70°探头探测WGT-3试块上Φ3×15

TB/T2340-2000标准规定：70°探头探测WGT-3试块上Φ3×15横通孔，当波高达到80%时的灵敏度余量不小于（）dB。

2、CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）AA、测定斜探头K值BB、测定直探头盲区范围CC、测定斜探头分辨力DD、以上全是

3、利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A正确B错误

4、CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。

CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。AA、入射点BB、折射角CC、分辨率DD、K值

5、有一阶梯孔，中间孔为Φ40长30mm，两端分别为Φ50长60mm孔，现要测量

有一阶梯孔，中间孔为Φ40长30mm，两端分别为Φ50长60mm孔，现要测量Φ40孔的直径，可以选用的计量器具为（）。A游标卡尺B杠杆百分表C内测千分尺D内径百分表

6、TB/T2340-2000标准规定：37°探头探测WGT-3试块上Φ3×15

TB/T2340-2000标准规定：37°探头探测WGT-3试块上Φ3×15横通孔，当波高达到80%时的灵敏度余量不小于（）dB。