利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

1、TB/T2340-2000标准规定：70°探头探测WGT-3试块上Φ3×15

TB/T2340-2000标准规定：70°探头探测WGT-3试块上Φ3×15横通孔，当波高达到80%时的灵敏度余量不小于（）dB。

2、如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？

如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？

3、计算题：有一伤损在140mm声程处，比CS-1-5试块上φ2×200mm的平

计算题：有一伤损在140mm声程处，比CS-1-5试块上φ2×200mm的平底孔幅度高12dB，求该伤损的当量直径。

4、CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）AA、测定斜探头K值BB、测定直探头盲区范围CC、测定斜探头分辨力DD、以上全是

5、CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。

CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。AA、入射点BB、折射角CC、分辨率DD、K值

6、TB/T2340-2000标准规定：37°探头探测WGT-3试块上Φ3×15

TB/T2340-2000标准规定：37°探头探测WGT-3试块上Φ3×15横通孔，当波高达到80%时的灵敏度余量不小于（）dB。