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● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试


● 现代电子设计方法包含了可测试设计,其中 (39) 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。

  • A(39) BIST
  • B JTAG
  • C UART
  • D USB
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分类:其他
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