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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目


CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()

  • AA、测定斜探头K值
  • BB、测定直探头盲区范围
  • CC、测定斜探头分辨力
  • DD、以上全是
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分类:无损检测技术资格人员考试题库,技术监督质检职业技能考试题库
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