在X荧光仪分析铁水时，我们规定本炉铁水与上一炉铁水中Si含量相差（）必须重新

1、玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。

玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。A铂金B黄金C白银D铁的

2、玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。

玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。A机烧B球团C石灰块D铁矿石

3、目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。

目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。A压片法B薄膜法C熔融制样法D离心浇铸法

4、在X荧光仪分析铁水时，我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差（）必须重新

在X荧光仪分析铁水时，我们规定当本炉生铁与上一炉生铁中S含量相差（）必须重新磨样分析进行确认。A≥0.020%B≥0.030%C≤0.020%D≤0.030%

5、X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）

X-荧光波谱分析仪（品位仪）的检测器一般有（）AA、正比计数器BB、闪烁计数器CC、光电倍增管

6、粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末

粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A100目B120目C150目D180目