近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）
- A后乳化型渗透法
- B着色渗透法
- C水洗型荧光渗透法
- D以上方法均不能探测近表面下的缺陷
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检验近表面缺陷时，最好选用（）。
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3、斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）
斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A近场效应B受分辨力影响C盲区D受反射波影响
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4、双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A正确B错误
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5、涡流探伤是一种探测（）零件和构件表面和近表面缺陷的无损探伤方法。
涡流探伤是一种探测（）零件和构件表面和近表面缺陷的无损探伤方法。A金属材料B非金属材料C铁磁性材料D塑料
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6、磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A正确B错误