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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
暂无解析
1、表面波探头用于探测工件（）缺陷。
表面波探头用于探测工件（）缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形
2、直探头主要用于探测（）的缺陷。
直探头主要用于探测（）的缺陷。
3、双晶探头用于探测工件（）缺陷。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形
4、双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A正确B错误
5、表面波探头用于探测工件（）。
表面波探头用于探测工件（）。
6、斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？
斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？
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