ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。

1、用ICP-AES法测定水中金属元素时，基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是

用ICP-AES法测定水中金属元素时，基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是理想的消除干扰的方法，但存在高纯试剂难于解决的问题，且废水的基体成分变化莫测，标准溶液的配制十分...

2、用ICP-AES法测定中，为了保证测定的准确性，在成批量测定样品时，每（）个

用ICP-AES法测定中，为了保证测定的准确性，在成批量测定样品时，每（）个样品为一组，加测一个待测元素的质控样品，用以检查仪器的漂移程度。AA．5BB．10CC．15DD．20

3、ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。

ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。AA．光谱干扰BB．化学干扰CC．电离干扰

4、ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线

ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A正确B错误

5、X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内

X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。A正确B错误

6、ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。

ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。