以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，

1、探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底

探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高、（）A与探测面平行的大平底面BR200的凹圆柱底面CR200的凹球底面DR200的凸圆柱底面

2、用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降

用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读...

3、锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，

锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）AA、反射波峰尖锐BB、反射波稳定但较波幅低CC、反射波幅低，宽度较大

4、探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂

探测面光洁度不同，横通孔直径、取向、距离都相同，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度（）。AA、相同BB、光洁度低的高CC、光洁度高的高DD、光结度高的低

5、探测铸件时因表面粗糙，为确保足够的灵敏度，采用（）较好。

探测铸件时因表面粗糙，为确保足够的灵敏度，采用（）较好。

6、探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。

探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。A正确B错误