利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应

1、X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能

X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。A正确B错误

2、X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。AA、X射线管BB、晶体CC、探测器

3、X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A增大B减小C不变D无变化

4、X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。

X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。A正确B错误

5、X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A粒度效应B吸收C增强D矿物效应

6、X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误

X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。A正确B错误