锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()
- AA、反射波峰尖锐
- BB、反射波稳定但较波幅低
- CC、反射波幅低,宽度较大
锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()
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1、方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()AA、平行且靠近探测面BB、与声束方向平行CC、与探测面成...
2、方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
射线探伤只适用于探测体积型缺陷。A正确B错误
4、垂直法探伤所定的缺陷深度,也就是缺陷至探测面的垂直距离。
垂直法探伤所定的缺陷深度,也就是缺陷至探测面的垂直距离。A正确B错误
5、磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。A正确B错误
串列法探伤适用于检测垂直于探测面的平面缺陷。A正确B错误