用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么

1、用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于

用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉

2、用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。

用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A被测表面不光洁B被测表面平面度很差C被测表面有毛刺D非金属材料表面折光不好

3、用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

4、用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时，通常用光隙法进行，当采用此法检定时

用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时，通常用光隙法进行，当采用此法检定时，其间隙量一般不大于（）。A0.010mmB0.005mmC0.003mm

5、用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

6、在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平

在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A0.001mmB0.002mmC0.003mm