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表面波探头用于探测工件（）缺陷。
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1、直探头主要用于探测（）的缺陷。
直探头主要用于探测（）的缺陷。
2、双晶探头用于探测工件（）缺陷。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形
3、双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A正确B错误
4、在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？
在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？
5、斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
6、表面波探头用于探测工件（）。
表面波探头用于探测工件（）。
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