饼类锻件最主要探测方向是：（）

1、以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，

以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A正确B错误

2、长轴类锻件从端面做轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）

长轴类锻件从端面做轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）AA、三角反射波BB、61°反射波CC、轮廓回波DD、迟到波

3、轴类锻件最主要探测方向是：（）

轴类锻件最主要探测方向是：（）A轴向直探头探伤B径向直探头探伤C斜探头外圆面轴向探伤D斜探头外圆面周向探伤

4、烙主要适用于各种饼类品种的制作。

烙主要适用于各种饼类品种的制作。A正确B错误

5、锻件原则上应从（）方向进行探伤，尽可能地探测到（）。

锻件原则上应从（）方向进行探伤，尽可能地探测到（）。

6、长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。

长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。A迟到波B61°反射波C材料晶界回波D以上都不对