用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于

1、用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度

用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm

2、用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么

用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？

3、用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

4、用刀口尺检定工作面的平面度时，通常以光隙法进行，采用此法检定其间隙量一般不大

用刀口尺检定工作面的平面度时，通常以光隙法进行，采用此法检定其间隙量一般不大于（）。A0.010mmB0.005mmC0.003mm

5、用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时，通常用光隙法进行，当采用此法检定时

用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时，通常用光隙法进行，当采用此法检定时，其间隙量一般不大于（）。A0.010mmB0.005mmC0.003mm

6、用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉