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使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()


使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()

  • A小于实际尺寸
  • B接近声束宽度
  • C稍大于实际尺寸
  • D等于晶片尺寸
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分类:无损检测技术资格人员考试题库,技术监督质检职业技能考试题库
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