ICP-AES法测定时,()法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数IC.P光谱仪软件中采用这种方法。
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1、ICP-AES法测定时,()法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数ICP
ICP-AES法测定时,()法是实际应用最广泛的校正干扰的数学法,多数ICP光谱仪软件中采用这种方法。
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2、用ICP-AES法测定水中金属元素时,基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是
用ICP-AES法测定水中金属元素时,基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是理想的消除干扰的方法,但存在高纯试剂难于解决的问题,且废水的基体成分变化莫测,标准溶液的配制十分...
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3、用ICP-AES法测定中,为了保证测定的准确性,在成批量测定样品时,每()个
用ICP-AES法测定中,为了保证测定的准确性,在成批量测定样品时,每()个样品为一组,加测一个待测元素的质控样品,用以检查仪器的漂移程度。AA.5BB.10CC.15DD.20
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4、ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。AA.光谱干扰BB.化学干扰CC.电离干扰
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5、ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A光谱干扰B化学干扰C电离子干扰
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6、用ICP-AES法测定中,为了保证测定的准确性,在成批量测定样品时,每()个
用ICP-AES法测定中,为了保证测定的准确性,在成批量测定样品时,每()个样品为一组,加测一个待测元素的质控样品,用以检查仪器的漂移程度A5B10C15D20