接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。

1、脉冲反射法超声波探伤，对与声束轴线不垂直的缺陷，容易。

脉冲反射法超声波探伤，对与声束轴线不垂直的缺陷，容易。

2、使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）

使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A小于实际尺寸B接近声束宽度C稍大于实际尺寸D等于晶片尺寸

3、声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射

声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越（）A大B小C无影响D不一定

4、接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法。

接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法。AA.6dB BB.相对灵敏度 CC.绝对灵敏度 DD.12dB

5、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑

在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）A大B小C无影响D不一定

6、当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。

当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。A正确B错误