直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

1、铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。

铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。A正确B错误

2、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

3、用纵波直探头探伤，找到缺陷最大回波後，缺陷的中心位置（）

用纵波直探头探伤，找到缺陷最大回波後，缺陷的中心位置（）AA、在任何情况下都位于探头中心正下方BB、位于探头中心左下方CC、位于探头中心右下方DD、未必位于探头中心正下方

4、在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（）

在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：（）A与表面成较大角度的平面缺陷B反射条件很差的密集缺陷CAB都对DAB都不对

5、直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面

直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。

6、在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。

在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。A出现在第一次底波之前B出现在第一次底波之后C没有缺陷回波，只有底波降低或消失D以上都有可能