磁粉探伤不能用于()。

1、磁粉探伤法可以用于检查导电材料

磁粉探伤法可以用于检查导电材料A正确B错误

2、灵敏度试片可用于测量磁粉探伤装置的性能和磁粉性能。

灵敏度试片可用于测量磁粉探伤装置的性能和磁粉性能。A正确B错误

3、用于磁粉探伤的磁粉性能应具有较高的（）和较低的（）与（）

用于磁粉探伤的磁粉性能应具有较高的（）和较低的（）与（）

4、磁粉探伤不能确定缺陷深度。

磁粉探伤不能确定缺陷深度。A正确B错误

5、磁粉探伤法可用于（）表面微裂纹探伤。

磁粉探伤法可用于（）表面微裂纹探伤。A铝B铅C镍D铜

6、磁粉探伤不能确定缺陷的：（）.

磁粉探伤不能确定缺陷的：（）.AA.深度BB.位臵CC.长度DD.A和B