CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。

1、CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）AA、测定斜探头K值BB、测定直探头盲区范围CC、测定斜探头分辨力DD、以上全是

2、利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A正确B错误

3、利用同一加工方法，加工φ45H7孔和φ50H6孔，应理解为（）

利用同一加工方法，加工φ45H7孔和φ50H6孔，应理解为（）A前者加工困难B后者加工困难C两者加工难易相当D无从比较

4、有一阶梯孔，中间孔为Φ40长30mm，两端分别为Φ50长60mm孔，现要测量

有一阶梯孔，中间孔为Φ40长30mm，两端分别为Φ50长60mm孔，现要测量Φ40孔的直径，可以选用的计量器具为（）。A游标卡尺B杠杆百分表C内测千分尺D内径百分表

5、φ50H8/f7，说明轴孔配合是（）。

φ50H8/f7，说明轴孔配合是（）。A间隙配合B不能配合C过渡配合D过盈配合

6、CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨率D以上全部