在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
- A干涉
- B叠加
- C衍射
- D驻波
在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的()作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。
暂无解析
脉冲反射探伤法对探头晶片有什么要求?
简述超声波直探头利用多次脉冲反射法识别缺陷的方法。
3、钢板的直探头探伤中,显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种,它们是:()、
钢板的直探头探伤中,显示于示波屏上的缺陷回波图形可以分为三种,它们是:()、()、()
4、在有底波出现的直探头探伤中,缺陷一次回波的显示情况可能有()。
在有底波出现的直探头探伤中,缺陷一次回波的显示情况可能有()。A出现在第一次底波之前B出现在第一次底波之后C没有缺陷回波,只有底波降低或消失D以上都有可能
5、在中薄板焊缝斜探头探伤时,使用什么方法标定仪器时基线?()
在中薄板焊缝斜探头探伤时,使用什么方法标定仪器时基线?()A水平定位法B深度定位法C声程定位法D二次波法
6、在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()
在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A小于实际尺寸B接近声束宽度C大于实际尺寸D等于晶片尺寸