在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。
- AA、消除颗粒效应
- BB、便于压片
- CC、消除元素效应
在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。
暂无解析
在X荧光分析中,以下样品的哪个因素不属于物理效应。()AA、样品的粒度BB、不均匀性CC、表面结构DD、化学价态
2、在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。
在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。AA、分光晶体BB、探测器CC、波高分析器DD、放大器
3、X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能
X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。A正确B错误
4、在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。A正确B错误
在X荧光分析中不常使用的探测器是()。AA、正比计数器BB、闪烁计数器CC、晶体计数器DD、半导体探测器
6、粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末试样。A100目B120目C150目D180目