表面波探头用于探测工件表面缺陷。
- A正确
- B错误
表面波探头用于探测工件()缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形
双晶探头用于探测工件()缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形
软保护膜探头适合用于粗糙表面的工件探伤。A正确B错误
4、双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A正确B错误
表面波探头用于探测工件()。
6、斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为(
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为()。A面积大于声束截面的当量一定大B面积小于声束截面的当量反而大C当量忽大忽小D以上都可能