在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）

1、用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于

用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉

2、用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度

用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm

3、用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么

用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？

4、用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

5、用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

6、在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平

在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A0.001mmB0.002mmC0.003mm