X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。

1、X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）

2、X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。AA、X射线管BB、晶体CC、探测器

3、X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。

4、X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。

5、X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A增大B减小C不变D无变化

6、X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。

X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。A正确B错误