探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。
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探头的近场长度求解公式是()。(λ:波长;f:频率;D:晶片直径,A:晶片半径)。
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探头的近场长度由下式决定(式中λ波长,f频率,D晶片直径)()。AA、N=1.22λ/DBB、N=D/4λCC、N=D2/4λDD、N=2/D
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探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。AA、增加BB、减小CC、不变
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探头晶片尺寸增加,近场区长度增加,对探伤不利。A正确B错误
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近场区长度在频率给定时,随晶片直径变小而()。A缩短B不变C增加D扩散
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探头晶片尺寸增加,对探伤有哪些不利因素?