用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。
- AA、前一个缺陷大于后一个
- BB、后一个缺陷大于前一个
- CC、两者一样大
- DD、两者大小关系不确定
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。
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1、探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底
探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、()A与探测面平行的大平底面BR200的凹圆柱底面CR200的凹球底面DR200的凸圆柱底面
2、以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。A正确B错误
3、锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,
锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()AA、反射波峰尖锐BB、反射波稳定但较波幅低CC、反射波幅低,宽度较大
4、探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂
探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度()。AA、相同BB、光洁度低的高CC、光洁度高的高DD、光结度高的低
5、用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。
用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。A无缺陷B有规则的缺陷C有小缺陷D以上均不是
6、在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()
在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()