探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。

1、探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。

探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。AA、增加BB、减小CC、不变

2、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

3、超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（）

超声波探伤仪的探头晶片用的是下面哪种材料：（）A导电材料B磁致伸缩材料C压电材料D磁性材料

4、超声波探伤中，当晶片的厚度为（）时，探头具有较高的转换率。

超声波探伤中，当晶片的厚度为（）时，探头具有较高的转换率。AA、1/4波长BB、1/2波长CC、与波长相当DD、1/4波长的整数倍

5、探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。AA、斜射法BB、水浸法CC、接触法DD、穿透法

6、在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑

在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：（）A大B小C无影响D不一定