靠近探头的缺陷不一定都能探测到，因为超声波检测仪器存在有仪器（）效应

1、直探头主要用于探测（）的缺陷。

直探头主要用于探测（）的缺陷。

2、靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。

靠近探头的长条形缺陷并不一定都能测到，因为（）。AA、声束扩散BB、材质衰减CC、仪器阻塞效应DD、折射

3、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

4、溶于水后，在低浓度下能有效地降低水溶液的表面张力，（）不一定都是洗涤剂。

溶于水后，在低浓度下能有效地降低水溶液的表面张力，（）不一定都是洗涤剂。

5、在超声波探伤中，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

在超声波探伤中，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

6、超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。

超声波探伤，从各个方向都能探测到的缺陷是（）缺陷。AA、平面形BB、圆柱形CC、体积形DD、线状