晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）

1、垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）

垂直探伤时，工件探测面与底面不平行，底波将（）或（）

2、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

3、直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A正确B错误

4、晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

5、探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。AA、斜射法BB、水浸法CC、接触法DD、穿透法

6、使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。

使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。AA、垂直法BB、共振法CC、穿透法DD、斜射法