用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
- A球面干涉
- B等倾干涉
- C等厚干涉
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
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1、用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉
2、用平晶检测平面度,有时看不见干涉条纹,这可能是由于()。
用平晶检测平面度,有时看不见干涉条纹,这可能是由于()。A被测表面不光洁B被测表面平面度很差C被测表面有毛刺D非金属材料表面折光不好
3、若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。A平B凸C凹
4、用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?
5、用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
6、测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条
测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。