直探头主要用于探测（）的缺陷。

1、表面波探头用于探测工件（）缺陷。

表面波探头用于探测工件（）缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形

2、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

3、直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A正确B错误

4、双晶探头用于探测工件（）缺陷。

双晶探头用于探测工件（）缺陷。AA、近表面BB、表面CC、内部DD、平面形

5、在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？

6、斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。

斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。