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在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()


在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()

  • AA、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
  • BB、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
  • CC、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
  • DD、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小
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分类:中级无损检测技术资格人员题库,无损检测技术资格人员考试题库
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