在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
- AA、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
- BB、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
- CC、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
- DD、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小
在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
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1、在其他条件相同的条件下,钢中的缺陷回波比铝中缺陷回波高。
在其他条件相同的条件下,钢中的缺陷回波比铝中缺陷回波高。A正确B错误
2、在同一条件下进行磁粉探伤,交流磁化法比直流磁化法对近表面内部缺陷的检测灵敏度
在同一条件下进行磁粉探伤,交流磁化法比直流磁化法对近表面内部缺陷的检测灵敏度高。A正确B错误
3、用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读...
4、在检测条件相同的情况下,某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4m
在检测条件相同的情况下,某一个缺陷的指示埋藏深度及回波高度与对比试块上φ4mm平底孔相同,则该缺陷的大小相当于()平底孔。AA、φ2mmBB、φ4mmCC、φ3mmDD、φ5mm
5、在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()
在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()
同一气体在不同的温度和压力条件下,有相同的比容。A正确B错误