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扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力()。


扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力()。

  • AA、成正比;
  • BB、成反比;
  • CC、成线性关系;
  • DD、成一定的函数关系。
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