一般来说探头指向角越小,主声束越窄,从而可以提高对缺陷的()和准确判断缺陷的位置。
- A分辨力
- B性质
- C趋向
- D当量
一般来说探头指向角越小,主声束越窄,从而可以提高对缺陷的()和准确判断缺陷的位置。
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1、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()A相控排列B声阻抗伪差C旁瓣D声缺陷E侧方声影
2、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()A相控排列B声阻抗伪差C旁瓣D声缺陷E侧方声影
3、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()AA.相控排列BB.声阻抗伪差CC.旁瓣DD.声缺陷EE.侧方声影
4、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()A相控排列B声阻抗伪差C旁瓣D声缺陷E侧方声影
5、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()A相控排列B声阻抗伪差C旁瓣D声缺陷E侧方声影
6、发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()
发自于各个探头晶片组边缘并与主声束方向不一致的无关声束称()A相控排列B声阻抗伪差C旁瓣D声缺陷E侧方声影