磁粉探伤主要用于检查（）材料的（）及（）位置缺陷

1、磁粉探伤法可以用于检查导电材料

磁粉探伤法可以用于检查导电材料A正确B错误

2、磁粉探伤适用于检查任何金属材料

磁粉探伤适用于检查任何金属材料A正确B错误

3、磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于中心导体法的磁粉材料和系统灵敏度的评价A正确B错误

4、磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）

磁粉探伤的深度主要取决于工件材料的磁导率，缺陷的类型及磁化电流的（）和（）

5、磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价A正确B错误

6、磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷

磁粉探伤主要用于检测（）材料的（）及（）部位的缺陷