磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用（）电流磁化试件；为了有效地检出

1、磁粉探伤中，为了有效地检出近表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件

磁粉探伤中，为了有效地检出近表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件A正确B错误

2、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

3、在磁粉探伤中，无论用触头法或磁轭法都能有效地发现对接焊缝表面的纵向裂纹。

在磁粉探伤中，无论用触头法或磁轭法都能有效地发现对接焊缝表面的纵向裂纹。A正确B错误

4、磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件

磁粉探伤中，为有效地检出试件表面缺陷，宜采用交流电流磁化试件A正确B错误

5、磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A正确B错误

6、在磁粉探伤中，为能有效地检出环行工件圆周方向的缺陷，选用磁化方法时，应用（）

在磁粉探伤中，为能有效地检出环行工件圆周方向的缺陷，选用磁化方法时，应用（）。