在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平

1、在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。

在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。A中央明纹是白色的B红光条纹较密C紫光条纹间距较大D干涉条纹为白色

2、用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。

用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A被测表面不光洁B被测表面平面度很差C被测表面有毛刺D非金属材料表面折光不好

3、若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进

若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A平B凸C凹

4、用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么

用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？

5、在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。

在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。A中央明纹是白色的B红光条纹较密C紫光条纹间距较大D干涉条纹为白色

6、用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉