检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，

1、检验近表面缺陷时，最好选用（）。

检验近表面缺陷时，最好选用（）。

2、双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。

双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A正确B错误

3、周向磁化检验近表面缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是：（）

周向磁化检验近表面缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是：（）AA．直流电可提高磁粉的流动性BB．直流电易于达到磁场饱和CC．交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度变小DD．对环...

4、检验近表面缺陷最有效的方法是采用（）探头

检验近表面缺陷最有效的方法是采用（）探头

5、检验参数控制相对困难，可检验导电材料表面或焊缝与堆焊层表面或近表面缺陷的无损

检验参数控制相对困难，可检验导电材料表面或焊缝与堆焊层表面或近表面缺陷的无损检测方法是()A超声波探伤B涡流探伤C磁性探伤D渗透探伤

6、用周向磁化法检验近表面的缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是（）

用周向磁化法检验近表面的缺陷时，使用直流电代替交流电的原因是（）AA．磁粉的流动性不再对检验有影响；BB．直流电易于达到磁场饱和；CC．交流电的趋肤效应使可发现缺陷的深度...