锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤

1、方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但

方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）AA、平行且靠近探测面BB、与声束方向平行CC、与探测面成...

2、方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。

方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面

3、以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，

以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A正确B错误

4、锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，

锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）AA、反射波峰尖锐BB、反射波稳定但较波幅低CC、反射波幅低，宽度较大

5、垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离。

垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离。A正确B错误

6、串列法探伤适用于检测垂直于探测面的平面缺陷。

串列法探伤适用于检测垂直于探测面的平面缺陷。A正确B错误