单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（

1、接触法探伤中，若一个斜探头在钢中产生45°角切变波，则该探头在铝中产生的切变

接触法探伤中，若一个斜探头在钢中产生45°角切变波，则该探头在铝中产生的切变波角度小于45°。A正确B错误

2、铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。

铸钢件毛坯接触法探伤主要使用的探头是双晶纵波探头和塑料保护膜直探头。A正确B错误

3、单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为

单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

4、直接接触耦合法探伤是指探头与工件不加耦合介质直接接触。

直接接触耦合法探伤是指探头与工件不加耦合介质直接接触。A正确B错误

5、探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。AA、斜射法BB、水浸法CC、接触法DD、穿透法

6、直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面

直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。